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fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

德国菲尔希x-ray膜厚测试仪总代理 FISCHER-SCOPE X-RAY产品线还具备近30年的经验，并且仍在不断的发展中。确定细小结构和大型工件上的单一或复合镀层、RoHS要求的痕量分析、测试珠宝和黄金或在连续生产线上在线测量，

德国菲希尔fischer xdl-230镀层膜厚测试仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的Z轴系统。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以准确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计

x射线镀层测厚仪_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ测量系统拥有良好的多毛细孔X射线聚焦装置，既能有效地缩小测量点的面积，又能大幅加强射线的强度。仪器配备了大面积硅漂移探测器，特别适用于在小工件上测量非常薄镀层的厚度或者进行痕量分析。

德国fischer膜厚仪 X射线荧光测厚仪 XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。

Fischer X-RAY XUV773 X射线荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。