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泰勒·霍普森CCI HD非接触式白光干涉轮廓仪 CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪，具有测量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。 这种新型的 CCI HD 整合了世界**的非接触式尺寸测量功能和良好的厚薄膜测量技术。

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talor hobson自由曲面轮廓仪 功能强大的PGI Freeform使其称为光学零件分析测量的选择。灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统，全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统，适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。

泰勒霍普森FTS PGI 1000/1000E/1000S轮廓仪 秉承Taylor-Hobson生产良好测量仪器的优良传统，精密PGI系列采用良好的测量技术，应用**的相位光栅干涉传感器（PGI），以及**的球面校准程序，确保一次全自动操作就能完成尺寸测量能力和传感器线性的校准。