Surtronic S-116泰勒粗糙度仪可移动式底座

• 更新时间：2021-04-13
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Surtronic S-116泰勒粗糙度仪可移动式底座
通过选择SurtronicS-100系列的支架和打印机（参照“配件"）能够得到一-台*集成的粗糙度测量系统。能够测量不同类型的零部件，测量结果可以储存在内部，或者标准USB储存装置，以及将测量结果打印出来用于生产的下一个阶段或提供给用户。

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可移动式底座
在机床应用上使用时提供支撑。
编号SA-40

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完美的测量解决方案：
通过选择SurtronicS-100系列的支架和打印机(参照“配件”)能够得到一-台*集成的粗糙度测量系统。能够测量不同类型的零部件，测量结果可以储存在内部，或者标准USB储存装置，以及将测量结果打印出来用于生产的下一个阶段或提供给用户。

快速可靠的测量

轻轻的按下测量按钮，在几分钟内就能得到一个完整的可追溯的测量结果，包括可在屏幕上显示的详细轮廓曲线图或者自动打印出测量结果，打印机可选。

特殊设计，坚固耐用

整个机身由塑化橡胶包裏。聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性，内部有抗磨损的齿轮和轴承，以及坚固的不锈钢驱动机构。系统电源是一个3000毫安时的大容量锂聚合物电池，一 次充电便可进行至少2000次测量。

即开即用

即开即用能够让仪器在待机状态下1秒即可启用测量，充满电后待机能力长达5000个小时。

现场测量

在现场检测产品磨损和粗糙度的变化，预估产品的寿命。例如，检测涡轮片表面粗糙度的变化，作为早期缺陷和效率损失的预警信号。

英国泰勒新型Surtronic S-116/128粗糙度参数剖析才能：

规范：ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007
ISO根本：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ISO高档:Rk, A1, A2, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk
ASME:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他:R3z (Daimler Benz)
ISO初始参数:Pa, Pv, Pp, Pz, Pt, Pq, Psk, Pmr, Pdq, Ppc, PSm, Pz1max