泰勒霍普森白光干涉轮廓仪CCI MP

• 更新时间：2024-10-15
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泰勒霍普森白光干涉轮廓仪CCI MP
高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

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泰勒霍普森白光干涉轮廓仪CCI MP

无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

●2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率

●全量程0.1埃的分辨率

●轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面

●RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

●多语言版本的64位控制和分析软件

良好的光学干涉测量技术
• 非压电陶瓷闭环Z轴扫描控制，2.2毫米扫描范围
• 改进后的拼接功能，使Z轴量程可达100毫米
• 1024  x  1024像素阵列可获得高分辨率的大视场
• 增强了角度灵敏度，能够得到更好的测量数据

从实质上消除测量的不确定性
• RMS重复性小于0.2埃，台阶高度重复性小于0.1%
• 整个测量量程有着0.1埃分辨率
• FEA优化机械设计，具备出色的R&R能力
• 采用ISO标准的校准，确保结果的可信度

追求长期成本效益的坚固耐用设计
• 非压电Z轴扫描控制可省去昂贵的维修费用
• 自动表面检测可防止撞坏镜头
• 内置自我诊断工具可快速、轻松地排除故障
• 操作的简便性可减少使用者出错可能

64位控制和分析软件
• 包括中文、日文在内的多语种支持
• 兼容大多数计算机平台，有利于开展合作性研究项目
• 提供多种新工具，包括3D表面随时间演变过程中进行4D分析
• 根据多批次测量数据自动生成报告