TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S116出厂原装

• 更新时间：2017-03-01
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TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S116出厂原装
TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S-116属于Surtronic S100 系列产品，集良好的精密技术和低价值于一体，仪器应用广泛，测量灵活高效，可用于测量多种工件，其中包括无法接近或不易移动的工件。还可以在任何表面， 任何高度进行测量，配备的4.3寸大尺寸触屏，容量大，显示信息一目了然，方便阅读和操作。

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TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S116出厂原装

TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S-116属于Surtronic S100 系列产品，集良好的精密技术和低价值于一体，仪器应用广泛，测量灵活高效，可用于测量多种工件，其中包括无法接近或不易移动的工件。还可以在任何表面， 任何高度进行测量，配备的4.3寸大尺寸触屏，容量大，显示信息一目了然，方便阅读和操作。可在车间、检测室或实验室内对表面粗糙度进行有效的测量。

持久性：多样化的系统和应用相关的配件，满足您的特殊需求，大容量锂聚合物电池， 一次充电后可进行至少2000次测量，充满电后待机能力长达5000个小时。

坚固耐用：耐冲击性橡胶化塑性整个机身， 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性，抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 

测量范围：200 um 100 um 10 um 
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 
重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪
传感器原：电感
测量力：150-300mg
测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
测试参数：
三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器：2CR、Gaussian
评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
zui大行程：17.5mm
执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

笃挚仪器（上海）有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴，凭借种类齐全的产品资源和服务，涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备，努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战，共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。