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| 品牌 | Mahr/德国马尔 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,印刷包装,冶金,汽车,电气 |
马尔MarSurf PS10测针校准块及台座
标准块和软件
6820602 几何标准件 PGN 1，用于通过Ra、Rz、RSm 进行动态校准；正弦槽轮廓，轮廓深度约 1.5μm，凹槽间距大约 0. 1 0 mm
6820601 几何标准件 PGN 3，用于通过Ra、Rz、RSm 进行动态校准；正弦槽轮廓，轮廓深度约 3 μm，凹槽间距大约 0. 1 2 mm
6820605 几何标准件 PGN 10，用于通过Ra、Rz、RSm 进行动态校准；正弦槽轮廓，轮廓深度约 10μm，凹槽间距大约 0.20 mm
9027715 Mahr PGN 校准证书
6980102 DKD PGN 校准证书
6299054 "MarSurf XR 20" 评定软件（16 语言切换），包含 Mahr 许可密钥
4102552 应用 MarSurf PS 10 测量值的"MarCom Professional" 软件
4102551 应用 MarSurf PS 10 测量值的"MarCom Standard" 软件
4102357 数据线 16E Xu，带开始键，包含"MarCom Standard" 软件
4102231 无线发送器 16 EWe， 蓝牙® 智能 ，范围约6 m，用于将 MarSurf PS 10 的测量值传输到带 MarCom 软件的计算机
4102230 无线接收器， 蓝牙® 智能
6910427 MarSurf RD 18 C2 柱形驱动单元，用于横向测量*高 Lt = 4.8 mm
可选粗糙度仪测量头：
6111520 PHT 6‐350测头、单导块测头，测针针尖半径2μm，测量范围350μm，用于测量水平表面、6mmØ至 17mm深的孔洞以及宽度3mm 的凹槽
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6111526 PHT 6‐350 测头、单导块测头，测针针尖半径 5 μm，测量范围 350 μm，用于测量水平表面、6 mm Ø至 17 mm 深的孔洞以及宽度 3 mm 的凹槽
6111521 PHT 3‐350 测头、单导块测头，测量范围 350 μm，用于测量 3 mm Ø 至 17 mm 深的孔洞
6111524 PHT 11‐100 测头、单导块测头，弯曲，测量范围 100 μm，用于测量较深测量位置，例如宽度 2.5 mm 宽至 7.5 mm 深的凹槽
6111522 PHTF 0.5‐100 测头、单导块测头，测量范围 100 μm，用于测量齿测
6111525 PHTR 100 测头，单导块测头，含侧导块，测量范围 100 μm，用于测量凹陷和凸起表面
6111523 PT 150 测头、双导块测头，测量范围 150 μm，用于测量金属板和滚筒表面，符合 DIN EN 10049 (SEP)
6850540 PHT 测头延长杆，长度 80 mm，用于测量直径 9 mm 的孔洞（使用PHT 3‐350 测头）
6850716 测头保护，钢质，用于直径 10 mmØ 以上的孔
6850715 测头保护，带 V 形块底座，钢质，用于圆柱工件的测量
7028532 测头保护，塑料，用于 10 mm Ø 以上的孔
7028530 用于在圆柱工件上进行测量的带 V 形块底座的塑料测头保护
备用零件和易损件：欢迎在线留言或电话咨询
7053546 MarSurf PS 10 标准件，包含 Mahr 校准证书
3030057 MarSurf PS 10 锂离子电池，3.7 V /3150 mAh
7054131 MarSurf PS 10 上的端口保护盖附件
4413000 MarStand 815 GN 测量立柱，三角底座，高 300 mm
4413001 MarStand 815 GN 测量立柱，三角底座，高 500 mm
4413005 MarStand 815 GN 测量立柱，三角底座，高 750 mm
6910435 支架，用于将 MarSurf PS 10 柱形驱动单元连接到 MarStand 815 GN 测量立柱或带 Ø 8mm 固定轴的支架设备
6710803 MarSurf ST‐D 测量立柱
6710807 MarSurf ST‐G 测量立柱
6910209 用于将 MarSurf PS 10（整套装置）连接至 ST‐D、ST‐F 或 ST‐G 测量立柱的支架
6910434 手持支架
6850720 可调高度支脚 (x2)，用作手持设备支架 6910434
6851304 用于使用
6910434 手持设备支架将 MarSurf PS 10 驱动单元连接至ST‐D、ST‐F 或 ST‐G 测量立柱的支架
