Perthometer M2销售Perthometer M2粗糙度仪

• 更新时间：2017-02-23
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Perthometer M2销售Perthometer M2粗糙度仪
Perthometer M2粗糙度仪的操作是基于久经验证的强大功能，使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2让您得到到的测量功能和高效的测量灵活性。

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Perthometer M2销售Perthometer M2粗糙度仪
Perthometer M2粗糙度仪的操作是基于久经验证的强大功能，使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2让您得到到的测量功能和高效的测量灵活性。
与Perthometer M1对比，此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线*根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。
更多的，MarSurf M2 提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测，垂直显示比例的调整，用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置。

Perthometer M2销售Perthometer M2粗糙度仪

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪技术参数：
测量范围高达150μm
测量单位μm/μin 可选 
评定标准: DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可选 
依照DINENISO4288/ASMEB461标准的测量长度选择:1.75 mm;5.6 mm; 17.5 mm;依照ENISO12085标准:1mm;2mm;4mm;8mm;12mm;16mm 
截止波长可从 1 至5自由选择 
*依照标准的测量波长及测量长度自动选择 
依照DINENISO11562标准的相位修正轮廓滤波器 
可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm (0,01 in/0,032 in/0,100 in) 
可选择短截止波长 
依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数: Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc; 
依照JIS标准的评定参数: Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif 标准的评定参数: R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量) 
可显示公差及输出测量报告中 
显示比例可自动或手动选择 
可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告 
测量报告可输出测量日期及时间 
内置存储卡可存储200组测量数据 
动态传感器校准 
锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪主要技术指标
相对误差: ≤±5%
测量原理：指针电感触方式
测量范围：100 um
测量速度：0.5 mm/s
轮廓分辨率：12 nm
滤波: 高斯(自动确定)  
取样长度 : 0.25, 0.8, 2.5 mm
扫描长度按DIN/ISO: 1.75,  5.6, 17.5 mm
取样长度数目: 1 到 5 , 可选择
参数: DIN/ISO : Ra, Rz, Rmax, Rq,Rp,Rt,R3z,Ry,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Rr2,Pc,Mk ,Sm,S,tp.
        : JIS : Ra, Rz
垂直方向标定 : 自动
水平方向标定 : 根据取样长度
记录 : R-轮廓，数据输出
打印机 : 自动打印 / 内置式打印
纸宽 : 57.5 mm
计量单位 : um / uin , 可选择
显示 : LCD 显示

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