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DUALSCOPE FMP40测厚仪安装指导 安装指导： 一．安装PC-Datex软件。安装结束后，打开Microsoft Excel，点击工具菜单栏下的加载宏选项， 再按浏览键，在刚才的安装目录下找到并点击PcDatex95后按确定，此时应出现如下窗口：

X-RAY XAN310荧光射线材料分析及镀层测厚仪 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性价比的紧凑入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，用于快速、无损分析镀层厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。

菲希尔XDLM-pcb200 来自德国菲希尔Fischer的XDLM-PCB测量印制电路板上镀层厚度及成分分析的入门级、耐用型测量仪。用于测量和分析印刷电路板上的涂层厚度和成分的X射线荧光测量仪器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB仪器是专门用于测量和分析印刷电路板上的涂层厚度和成分的坚固耐用的入门级仪器。

德国fischer膜厚仪 X射线荧光测厚仪 XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。

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Fischer X-RAY XUV773 X射线荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。